2020年2月5日(水)~7日(金)に韓国で開催されるSEMICON KOREAに出展致します。
今回の展示会では、超精密度Ultra Fine JIG、WAFER Probe Card展示及びWafer用3D検査装置展示を行います。
お客様のご要望に合わせた検査ソリューションをご提案致します。
ぜひとも弊社ブースへお越しください。


主な展示内容

・Ultra Fine JIG
・Wafer Probe Card
・Wafer用3D検査装置

出展概要

会期 2020年2月5日(水)～7日(金)
会場

COEX
展示ブース

BL31
公式サイト
 

https://www.semiconkorea.org/